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超大行程X荧光膜厚测试仪
型号：EDX-PCB
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产品说明、技术参数及配置
EDX-PCB是一款专门用于测量大型PCB板、箱体以及晶圆的超大行程上照式X荧光测厚仪，搭配图纸输入系统以及外部图片输入，不仅能随心所欲的快速运动被测样品的任何区域，在微区摄像头的帮助下，也能极快的定位被测样品上极微小的测试点，完成快速编程与测试。
应用领域
PCB板
大型箱体
晶圆
性能优势
1 超大开放式样品腔搭配全自动超精密大行程平台，XY移动范围：600mm×400mm。
2 可外部输入被测板材的图片或搭配外摄全景摄像头。
3 搭配多种不同规格尺寸的准直器，可对应不同的测试场景。
4 高达140mm的Z轴移动范围配合可变焦补正系统，可应对各种凹槽异型件。
5 配备70mm²超大探测窗口，相比常规探测器，不仅分辨率更高，计数率也显著增强，能为超小测试点提供更稳定的测试效果。
应用领域
PCB板
大型箱体
晶圆
性能优势
1 超大开放式样品腔搭配全自动超精密大行程平台，XY移动范围：600mm×400mm。
2 可外部输入被测板材的图片或搭配外摄全景摄像头。
3 搭配多种不同规格尺寸的准直器，可对应不同的测试场景。
4 高达140mm的Z轴移动范围配合可变焦补正系统，可应对各种凹槽异型件。
5 配备70mm²超大探测窗口，相比常规探测器，不仅分辨率更高，计数率也显著增强，能为超小测试点提供更稳定的测试效果。
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