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能量色散X荧光光谱仪
型号：EDX6000C
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产品说明、技术参数及配置
天瑞仪器在累计数万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种测试需求融于一体的新一代X荧光分析装置-EDX6000C。
该仪器配置大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器、超近低损耗测试光路、高精度微焦斑X射线激发光源、PLC(单杯位、9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统、真空和氦气二合一系统、样品自旋系统、仪器三重安全防护系统(探测器防扎功能、高压钥匙保护、样品盖自锁功能)。仪器单样品腔及多样品腔进样两种模式完美结合,软件配套天瑞新研发成果XRF成份分析软件4.0版本和RoHS5.0版本全智能版本软件,实现液体、固体一键测试功能,强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。
仪器使用运行成本低、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性。该产品可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化工元素分析、医药食品管控、地质矿元素分析、水泥、耐火材料、玻璃等多个行业的元素分析领域。
性能优异,卓尔不群
大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器,4096道高速数字处理多道及高功率高管压高压和激发光源与分析光路最佳配合,可获得超高灵敏度。与以往机型相比,元素范围拓展到F元素,元素检测下限可提升5~10倍,检出限低至0.2ppm(轻基体),计数率可提高至300KCPS,可应对高要求的检测需求,提升分析结果的可靠性。
智能切换，测试无忧
人工智能样品识别系统配合全匹配分析模式,确保样品检测一个动作完成,免去人为选择曲线造成的误差。多重背景模拟功能,帮助去除样品差异带来的偏差。强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。粉末抽真空及液体充氦气测轻元素,软件实现双气路一键切换,彻底解决普通XRF无法在液体测轻元素。
多重防护,安全无忧
探测器保护装置在仪器测试完后关闭探测器窗口,防止探测器窗口被扎;仪器的防护盖、防护电磁锁与X光管高压联动,测试过程中无法打开样品腔盖,防止误操作打开盖子时瞬时X射线对操作人员的伤害。软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重X射线防护措施确保使用人员安全。
自旋进样,无人值守
配备PLC(9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统可供选择,12杯位和20杯位可1秒切换成单样品腔体,满足大小样品测试需求。9杯位自旋系统可提高非均一性样品元素测试。多杯位样品腔进样节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。
应用领域
1、ROHS、ELV、玩具安全、鞋材皮革等有害元素检测分析
2、环境土壤、固废、土壤修复等元素测定
3、地址矿产分析
4、合金(铜、不锈钢等)成分分析
5、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
6、黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
7、石油化工产品含量分析
8、水泥、耐火材料、玻璃等建材行业的元素分析领域
9、饲料、肥料等有益有害元素测定
10、其他无机元素分析行业等等
产品参数
1.测量范围：元素周期表F9-U92之间的元素。
2.光源系统靶材：高效超薄铍窗W靶或铑靶光管(靶材二选一，牛津光管，标配铑靶）
3.光源系统性能：最大功率：≥50W；最大激发电压：≥50kV；最大激发电流：≥1mA。
4.自动初级光路滤片交换器：≥5位，且≥3种材质套件。
5.探测器类型：硅漂移探测器（SDD），电致冷，工作温度低于-170℃，能量分辨率：≤141eV @ Mn Kα100kcps，探测晶体面积≥25mm2。
6.安全锁：仪器盖包含电磁安全锁，测试时自动锁闭防误开操作，盖体与仪器腔体接触位有接进开关，误开直接断开高压供电；两种安全装置。
7.X射线照射方式：下照射。
8.测定气氛：大气、真空环境。可以充氢气或氦气，测试液体中的Na～P元素。
9.准直器：5个准直器：0.5、1、2、4、7mm
10.观察定位系统：配备像素500万摄像装置，直接观察测试样品，定位测试点位，且摄像区d大小可调整。
11.批量进样模式：可取式转盘，样品位数≥9位。
12.样品旋转功能：含样品自旋装置，测试作业样品静态动态可调。以消除样品不均匀（颗粒效应）宝石晶体衍射峰的影响。
13.大样品模式：大样品模式的腔体空间Φ340mm×64（H）mm。
14.定性和定量分析软件：自动、手动定性两种方法可选，设备安装技术工程师对操作人员的工作曲线的制作进行系统性培训。
15.无标样定量分析软件：软件配有智能分析曲线（Smart-FP )用于没有标样的情况下，采用光谱谱线拟合的方式测试未知样品中各元素的含量，可快速的全谱图扫描；针对关心的痕量元素进行定点单道测量，分析结果更准确;软件具有康普顿散射、多种背景校正功能，可以准确分析各种未知基体的样品。
16.数据接口：全开放式仪器数据接口，支持多种通信协议实现实验室LIMS系统的连接，数据可主动上传，也可被动读取等多种交互方式。客户提供通信模式和协议，我方开放对应接口即可。
该仪器配置大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器、超近低损耗测试光路、高精度微焦斑X射线激发光源、PLC(单杯位、9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统、真空和氦气二合一系统、样品自旋系统、仪器三重安全防护系统(探测器防扎功能、高压钥匙保护、样品盖自锁功能)。仪器单样品腔及多样品腔进样两种模式完美结合,软件配套天瑞新研发成果XRF成份分析软件4.0版本和RoHS5.0版本全智能版本软件,实现液体、固体一键测试功能,强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。
仪器使用运行成本低、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性。该产品可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化工元素分析、医药食品管控、地质矿元素分析、水泥、耐火材料、玻璃等多个行业的元素分析领域。
性能优异,卓尔不群
大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器,4096道高速数字处理多道及高功率高管压高压和激发光源与分析光路最佳配合,可获得超高灵敏度。与以往机型相比,元素范围拓展到F元素,元素检测下限可提升5~10倍,检出限低至0.2ppm(轻基体),计数率可提高至300KCPS,可应对高要求的检测需求,提升分析结果的可靠性。
智能切换，测试无忧
人工智能样品识别系统配合全匹配分析模式,确保样品检测一个动作完成,免去人为选择曲线造成的误差。多重背景模拟功能,帮助去除样品差异带来的偏差。强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。粉末抽真空及液体充氦气测轻元素,软件实现双气路一键切换,彻底解决普通XRF无法在液体测轻元素。
多重防护,安全无忧
探测器保护装置在仪器测试完后关闭探测器窗口,防止探测器窗口被扎;仪器的防护盖、防护电磁锁与X光管高压联动,测试过程中无法打开样品腔盖,防止误操作打开盖子时瞬时X射线对操作人员的伤害。软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重X射线防护措施确保使用人员安全。
自旋进样,无人值守
配备PLC(9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统可供选择,12杯位和20杯位可1秒切换成单样品腔体,满足大小样品测试需求。9杯位自旋系统可提高非均一性样品元素测试。多杯位样品腔进样节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。
应用领域
1、ROHS、ELV、玩具安全、鞋材皮革等有害元素检测分析
2、环境土壤、固废、土壤修复等元素测定
3、地址矿产分析
4、合金(铜、不锈钢等)成分分析
5、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
6、黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
7、石油化工产品含量分析
8、水泥、耐火材料、玻璃等建材行业的元素分析领域
9、饲料、肥料等有益有害元素测定
10、其他无机元素分析行业等等
产品参数
1.测量范围：元素周期表F9-U92之间的元素。
2.光源系统靶材：高效超薄铍窗W靶或铑靶光管(靶材二选一，牛津光管，标配铑靶）
3.光源系统性能：最大功率：≥50W；最大激发电压：≥50kV；最大激发电流：≥1mA。
4.自动初级光路滤片交换器：≥5位，且≥3种材质套件。
5.探测器类型：硅漂移探测器（SDD），电致冷，工作温度低于-170℃，能量分辨率：≤141eV @ Mn Kα100kcps，探测晶体面积≥25mm2。
6.安全锁：仪器盖包含电磁安全锁，测试时自动锁闭防误开操作，盖体与仪器腔体接触位有接进开关，误开直接断开高压供电；两种安全装置。
7.X射线照射方式：下照射。
8.测定气氛：大气、真空环境。可以充氢气或氦气，测试液体中的Na～P元素。
9.准直器：5个准直器：0.5、1、2、4、7mm
10.观察定位系统：配备像素500万摄像装置，直接观察测试样品，定位测试点位，且摄像区d大小可调整。
11.批量进样模式：可取式转盘，样品位数≥9位。
12.样品旋转功能：含样品自旋装置，测试作业样品静态动态可调。以消除样品不均匀（颗粒效应）宝石晶体衍射峰的影响。
13.大样品模式：大样品模式的腔体空间Φ340mm×64（H）mm。
14.定性和定量分析软件：自动、手动定性两种方法可选，设备安装技术工程师对操作人员的工作曲线的制作进行系统性培训。
15.无标样定量分析软件：软件配有智能分析曲线（Smart-FP )用于没有标样的情况下，采用光谱谱线拟合的方式测试未知样品中各元素的含量，可快速的全谱图扫描；针对关心的痕量元素进行定点单道测量，分析结果更准确;软件具有康普顿散射、多种背景校正功能，可以准确分析各种未知基体的样品。
16.数据接口：全开放式仪器数据接口，支持多种通信协议实现实验室LIMS系统的连接，数据可主动上传，也可被动读取等多种交互方式。客户提供通信模式和协议，我方开放对应接口即可。
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